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產(chǎn)品中心實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(jì)（實(shí)驗(yàn)室級(jí)）
產(chǎn)品簡介
HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(jì)（實(shí)驗(yàn)室級(jí)）的快速光譜輻射計(jì)。*美國IESNA LM-79和中國GB/T 24824等標(biāo)準(zhǔn)要求。 可實(shí)現(xiàn)LED的瞬態(tài)光學(xué)特性測量（脈沖測量）及穩(wěn)態(tài)光學(xué)特性測量（直流測量）。 國家863計(jì)劃研究成果，獲美國授權(quán)（號(hào)：US 7,978,324 B2），“*批自主創(chuàng)新產(chǎn)品"，“國家重點(diǎn)新產(chǎn)品"榮譽(yù)。
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產(chǎn)品分類HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(jì)（實(shí)驗(yàn)室級(jí)）
一、產(chǎn)品選型表：
規(guī)格 項(xiàng)目 | HAAS-2000 | ||||||
UV | VIS | UVIS | VIR | UVIR | IR1 | IR2 | |
波長測量范圍 | 200-400nm | 380-780nm | 200-800nm | 350-1100nm | 200-1200nm | 780-1650nm | 1500-2550nm |
光學(xué)帶寬 | 1nm | 2.0nm | 4nm | 4nm | 5nm | 9nm | 15nm |
波長準(zhǔn)確度 | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm |
二、基本工作原理：
世界*高精度快速光譜輻射計(jì)一般由凹面平均衍射光柵和科學(xué)級(jí)CCD構(gòu)成，世界上也只有極少數(shù)制造商能夠提供如此高精度的CCD和光柵。然而實(shí)踐證明即便是世界*的商用凹面平場衍射光柵和世界*的商用科學(xué)級(jí)CCD，在系統(tǒng)光學(xué)耦合匹配方面仍存在一定不足，遠(yuǎn)方公司在高精度快速光譜儀方面積累了豐富經(jīng)驗(yàn)，改良了CCD與光柵的匹配設(shè)計(jì)，使整個(gè)系統(tǒng)的光學(xué)匹配更趨*，系統(tǒng)所獲得的光譜更純，線性更好。此外，遠(yuǎn)方公司采用的雜散光控制技術(shù)、寬動(dòng)態(tài)線性技術(shù)、精密CCD電子驅(qū)動(dòng)技術(shù)和復(fù)變矩陣軟件技術(shù)，并成功應(yīng)用了帶通色輪校正技術(shù)（BWCT）、分光積分結(jié)合技術(shù)（SBCT），以及修正的NIST雜散光校正技術(shù)等多項(xiàng)技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了*的5.00E-05的極低雜散光水平（在A光源嚴(yán)格條件下）和0.3%的全動(dòng)態(tài)光度線性性能。關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)在處地位。
HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(jì)（實(shí)驗(yàn)室級(jí)）
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